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美國HVI(美高測)VLF-65E VLF超低頻耐壓測試儀，本產(chǎn)品采用*新的電子設(shè)計，具備全自動、可編程操作、數(shù)據(jù)采集和報告功能，以及現(xiàn)成的介損測試儀?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過客服熱線聯(lián)系我們！
美國HVI(美高測)VLF-65E VLF超低頻耐壓測試儀，本產(chǎn)品采用*新的電子設(shè)計，具備全自動、可編程操作、數(shù)據(jù)采集和報告功能，以及現(xiàn)成的介損測試儀。現(xiàn)在熱賣中，如需購買VLF-65E VLF超低頻耐壓測試儀，可通過ai1718客服熱線聯(lián)系我們！
VLF-65E VLF超低頻耐壓測試儀簡介：
•VLF-65E采用*新的電子設(shè)計，具備全自動、可編程操作、數(shù)據(jù)采集和報告功能，以及現(xiàn)成的介損測試儀，可通過定制軟件實現(xiàn)無線控制
•VLF-65E是目前超低頻界*好的產(chǎn)品
•VLF-65E可選擇配備美高測設(shè)計的介損測試配件，局部放電探測可選配件。
•VLF-65E輸出電壓： 0 – 65 kVac（峰值），正弦型0.5 μF – 5.0 μF, 0.1 Hz – 0.01 Hz
•VLF-65E輸出頻率：0.1-0.01Hz
•VLF-65E負(fù)載電容：5µF
•VLF-65E符合IEEE400.2,IEEE433,VDE 0276, CENELEC等國際標(biāo)準(zhǔn)
•VLF-65E超低頻測試儀用于進(jìn)行簡單的是/否或通過/失敗耐壓測試
•VLF-65E超低頻測試儀還能用作離線電纜診斷局部放電測試和介損測試的電壓源。
VLF-65E VLF超低頻耐壓測試儀技術(shù)參數(shù)：
VLF-65E 符合以下規(guī)格：IEEE 400.2、IEEE 400、IEC 60060-3、CENELEC HD 620/621、VDE DIN 0276-620/621。IEEE 433 用于電機(jī)/發(fā)電機(jī)。
| 輸入： | 100 V 交流電 – 265 V 交流電，50 Hz/60 Hz，最大 20 A |
|---|---|
| 輸出： | 甚低頻正弦波：0 – 65 kV 交流峰值/46 kV AC RMS @ 28 mA RMS VLF 方波：0 – 65 kV 交流峰值 @ 22 mA 直流：0 – ± 65 kV @ 22 mA 護(hù)套測試 – 可編程 |
| 責(zé)任： | 連續(xù)的 |
| 頻率： | 0.1 Hz 至 0.01 Hz，步長為 0.01 Hz |
| 額定載荷： | 1.0 μF @ 0.10 Hz @ 65 kV 2.0 μF @ 0.05 Hz @ 65 kV 5.0 μF @ 0.02 Hz @ 65 kV 10.0 μF @ 0.01 Hz @ 65 kV μF 額定值在較低電壓下增加 例如：1.4 μF @ 0.1 Hz @ 47 kV 峰值 |
| 伏特計： | 電壓 kV 峰值或 RMS，精度為 +/-1% |
| 電流表： | mA 峰值或 RMS，+/-1% 精度 |
| 計算： | 電容、電阻、tan delta 閃光過壓、故障時間 |
| 故障響應(yīng)： | 智能故障管理 – 故障燃燒或故障關(guān)閉 |
| 報告/數(shù)據(jù)： | 非易失性存儲器或可移動 USB 記憶棒中最多可存儲 50 條測試記錄 |
| PC 接口： | USB 和 XBee 無線 |
| PC 軟件： | 遙控器和測試數(shù)據(jù)報告 |
| 尺寸和重量： （寬 x 深 x 高） | 22 x 14.5 x 26 英寸，150 磅 559 x 369 x 660 毫米，68 千克 |
| 輸出端接： | 20'/6 m 柔性 X 射線，接地 #2 – 20'/6 m #10 測試引線、接地鉤、線 |
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